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一.產品技術質量
   1.總體技術要求
 *掃描方式：激光手持照相式
 *掃描技術：激光線網格掃描技術
  掃描區(qū)域：280 mm×250 mm
  景深：250 mm
  工作距離：300 mm
 *掃描速率：240000 次/秒
   掃描分辨率：0.100 mm
 *測量精度：最高0.03 mm
 *體積精度：0.020 + 0.100 mm/m
  體積精度（結合DigiMetric）：0.020 + 0.025 mm/m
  測量范圍（物件尺寸）：0.1 ～6 m，可擴展
  傳輸方式：USB3.0
  工作溫度：-10 - 40℃
  工作濕度：10 - 90 %
 2.三維光學掃描系統(tǒng)配置與功能要求
   (1) 數(shù)據采集傳感器：高速、高精密工業(yè)級相機2臺 

 * (2) 測量光源：6 束交叉激光線，激光級別ClassII(人眼安全)，波長大于600納米
   (3) 計算機系統(tǒng)：支持windows 7及以上，32位和64位操作系統(tǒng)，支持內存16G以上
   (4) 拼接方式：系統(tǒng)整合“專業(yè)模式”全自動標志點拼接模塊
    (5) 全局誤差控制方式：系統(tǒng)整合GREC Pro全局誤差控制模塊
 * (6) 使用方便：整個過程全部手持完成，無需三腳架等支撐裝置
    (7) 普通環(huán)境下可以測量鎏金等高光亮物體以及黑色物體，無需噴涂顯影劑等預先處理
    (8)防抖設計：采用先進的防抖動算法，防止掃描過程中人為的抖動對誤差的影響
 * (9)掃描過程中可以進行實時可變點距掃描，實時加密局部細節(jié)點距
 3.三維光學掃描系統(tǒng)軟件功能要求
 * 全中文軟件界面
   * 自適應形面掃描模塊
  (1)  自動調節(jié)系統(tǒng)參數(shù)，自適應各種材質/顏色表面的不同掃描對象，無需手動調節(jié)
  (2)  可變點距掃描，在同一次掃描中，可對點距進行靈活設置和改變，同時滿足高速掃描以及精細掃描的需求
 * 自動拼接模塊
 (1)  智能標志點識別技術：系統(tǒng)自動跟蹤識別標志點
 (2)  GREC Pro全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進行全局控制
 * 全局框架掃描模塊
 (1)  全局框架掃描技術，對框架點累積誤差進行全局控制
 (2)  兼容DigiMetric系統(tǒng)，搭載全局攝影測量技術可將掃描范圍擴展至幾十米
    點云處理模塊
 掃描數(shù)據后，可進行點云噪聲處理及修剪
 基于曲率的點云精簡功能
 自動生成三角面
 數(shù)據輸入輸出
 導出結果為ASC，STL，OBJ，OKO等格式數(shù)據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數(shù)據
 其它
 *生產企業(yè)須通過雙軟企業(yè)認證，擁有國家級發(fā)明專利，并通過高新技術企業(yè)認定。
 供應商必須提供設備的軟硬件安裝調試。

二.蓓爾敏三維數(shù)據處理系統(tǒng)備件清單