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BEM-RM100臺式粗糙度

產品編號:BEM-RM100

上架時間: 2024/10/07

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詳情介紹

測量原理:

  本儀器測量原理為直角坐標測量法,即通過X軸、Z1軸傳感器,測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點,通過電器組件,將傳感器所測量的坐標點數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔?/span>PC機,軟件對所采集的原始坐標數(shù)據(jù)進行數(shù)學運算處理,標注所需的工程測量項目。

  此款儀器已可同國外進口儀器性能相比,各方面指標已達到國際標準,儀器符合國家標準GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及國際標準ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求

設備參數(shù):

測量范圍

X方向驅動器

120mm

Z1

粗糙度量程

±1500μm

Z1

分辨率0.01微米

Z軸高度(立柱)

400mm

輪廓技術參數(shù)

線性精度

±(0.7+|0.12H|)μm

直線度

0.5μm/100mm

粗糙度技術參數(shù)

線性精度

≤±5%

殘值噪聲

≤0.005μm

重復穩(wěn)定性

試值3%

截止波長

0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm

評定長度

λcX1、2、3、4、5

傳感器

類型

美國

分辨率

0.01μm

產地

美國

爬坡角度

上升77度 下降88度

粗糙度評定參數(shù)

Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2

測量速度

0.05-20mm/s

Z軸速度

0.05-20mm/s